| Module | Title | LV Type | CP | LV | Dates | Examination |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Beugungs- und Streumethoden | Einführung in die Röntgen-, Neutronen-, und Elektronenbeugung | Fach-/Modulprüfung | 4 | 341168 | ||
| Einführung in die Röntgen-, Neutronen- und Elektronenbeugung | Vorlesung/Übung | 269191 | ||||
| Einkristallmethoden | Röntgenkurs I: Beugungsmethoden | Praktikum | 269796 | Di 09:00-17:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×1) Mi 09:00-17:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×1) Do 09:00-17:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×1) Fr 09:00-17:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×1) | ||
| X-ray Course | Fach-/Modulprüfung | 4 | 369872 | |||
| Elektronenmikroskopie | Mikroanalytisches Praktikum (für Materialwissenschaftler) | Praktikum | 268547 | Mo 09:00-12:00 AH VI (2356|051) (×1) | ||
| Elektronenmikroskopie/Mikroanalytisches Praktikum | Fach-/Modulprüfung | 9 | 350697 | |||
| Elektronenmikroskopie (für Materialwissenschaftler) | Vorlesung | 267660 | ||||
| From Physics Principles to the Product | From Physics Principles to the Product | Fach-/Modulprüfung | 2 | 343214 | ||
| Nano-Optics I | Nano-Optics I | Fach-/Modulprüfung | 5 | 312271 | ||
| Nano-optics I | Vorlesung/Übung | 268434 | Di 14:30-16:00 28B 110 (4282|110) (×14) Di 16:15-17:00 MBP2 016 (4273|016) (×13) | |||
| Sekundärionenmassenspektrometrie | Sekundärionen-Massenspektrometrie | Fach-/Modulprüfung | 2 | 350877 | ||
| Sekundärionenmassenspektrometrie SIMS | Vorlesung | 266578 |